This site uses cookies. By continuing to browse this site, you are agreeing to our ue of cookies.

laboratory and medical technologies for You

Analýza nanočastíc SiO2 s ICP-MS pracujúcim v štandardnom režime s jednočasticovým ICP-MS

Star InactiveStar InactiveStar InactiveStar InactiveStar Inactive
 

Nanočastice oxidu kremičitého sa používajú v mnohých oblastiach (polovodičové procesory, laky, atď.). Pri ich zabudovaní do týchto produktov musí byť charakterizovaná distribúcia veľkosti a veľkosť častíc SiO2.  Analýza veľkosti nanočastíc sa vykonáva rôznymi technikami (mikroskopia, rozptyl svetla, SAXS a FFF). Tieto techniky sú obmedzené malým objemom vzorky a všetky okrem mikroskopie neposkytujú informácie o jednotlivom zložení častíc. SP-ICP-MS umožňuje rýchlu analýzu nanočastíc , meranie tisícov častíc za menší čas ako minútu a zároveň poskytuje individuálne časticové informácie o veľkosti častíc, distribúcii veľkosti častíc, koncentrácii častíc, koncentrácii rozpusteného prvku a zhlukoch. Známe štandardy rôznych veľkostí nanočastíc boli zakúpené od Nano Composix (San Diego, Kalifornia , USA). Všetky boli 10 minút ultrazvukované, zriedené deionizovanou vodou a opäť ultrazvukované. Všetky analýzy boli vykonané PerkinElmer NexION 350D ICP-MS pracujúcom v štandardnom režime s aplikačným modulom Nano.

Dosiahnuté výsledky preukázali vhodnosť použitia SP-ICP-MS v štandardnom režime na meranie nanočastíc SiO2. Kľúčovou výhodou NexION 350 ICP-MS je rýchlosť analýzy a krátka doba zádrže, ktorá znižuje pozadie, čo umožňuje 100 nm častice SiO2  merať v štandardnom režime.

Celý článok vo formáte pdf: Analysis of SiO2 Nanoparticles In Standard Mode with Single Particle ICP-MS

Search